Holesinger T.G., Clickner C.C., Cheggour N., Stauffer T.C., Lu X.F., Trociewitz U., Goodrich L.F., Myers D.
Rupich M., Xie Y., Usoskin A., Freyhardt H., Clickner C., Laan D., Douglas F., Stauffer T., Goodrich L.
Ключевые слова: HTS, coated conductors, mechanical properties, strain effects, pinning, measurement setup, PLD process, IBAD process, critical caracteristics, critical current, angular dependence, magnetic field dependence, economic analysis, MOCVD process, MOD process, RABITS process, experimental results, presentation
Osamura K., Hojo M., Seeber B., Nyilas A., Ilyin Y., Katagiri K., Clickner C., Shin H., Nijhuis A., Ekin J., Thoener M., Fluekiger R., Walsh R.P., Toplosky V., Ochiai S.*10, Kubo Y.*11
Ключевые слова: LTS, Nb3Sn, wires, mechanical properties, cables, comparison, review, power equipment
Ekin J.W., Clickner C.C., Laan D.C.(danko@boulder.nist.gov), Stauffer T.C.
Ключевые слова: presentation, HTS, coated conductors, measurement technique, stabilizing layers, critical current density, strain effects, mechanical properties, critical caracteristics, RABITS process, IBAD process, comparison, fatigue behavior, cycling, tensile tests, bending process, experimental results
Thieme C.L., Goyal A., Ekin J.W., Qiao Y., Cheggour N., Clickner C.C.(clickner@boulder.nist.gov), Xie Y.-Y
Maiorov B., Iwasa Y., Solovyov V., Suenaga M., Cheggour N., Clickner C., Ekin J.W., Weber C., Selvamanickam V., Xie Y.-Y.(yxie@igc.com), Knoll A., Chen Y., Li Y., Xiong X., Qiao Y., Hou P., Reeves J., Salagaj T., Lenseth K., Civale L.
Thieme C.L., Goyal A., Verebelyi D.T., Cheggour N.(cheggour@boulder.nist.gov), Ekin J.W., Clickner C.C., Feenstra R.
Goyal A., Paranthaman M., Verebelyi D.T., Ekin J.W., Clickner C.C., Feenstra R., Cheggour N., Thieme C.L.H.
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.